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測厚儀檢測的方法:無損檢測技術(shù)

更新時間:2011-09-05 瀏覽次數(shù):1653

測厚儀檢測的方法:無損檢測技術(shù)
無損檢測技術(shù)是一門理論上綜合性較強,又非常重視實踐環(huán)節(jié)的很有發(fā)展前途的學科。它涉及到材料的物理性質(zhì)、產(chǎn)品設(shè)計、制造工藝、斷裂力學以及有限元計算等諸多方面。
在化工、電子、電力、金屬等行業(yè)中,為了實現(xiàn)對各類材料的保護或裝飾作用,通常要采用噴涂、有色金屬覆蓋以及磷化、陽極氧化處理等方法,這樣,便出現(xiàn)了涂層、鍍層、敷層、貼層或化學生成膜等概念,我們稱之為覆層。覆層的厚度測量已成為金屬加工工業(yè)已用戶進行成品質(zhì)量檢測*的zui重要的工序。是產(chǎn)品達到標準的*手段。
目前,國內(nèi)外已普遍按統(tǒng)一的標準測定涂鍍層厚度,覆層無損檢測的方法和儀器的選擇隨著材料物理性質(zhì)研究方面的逐漸進步而更加至關(guān)重要。
有關(guān)覆層無損檢測方法,主要有:楔切法、光截法、電解法、厚度差測量法、稱重法、X射線瑩光法、β射線反射法、電容法、磁性測量法及渦流測量法等。這些方法中除了后五種外大多都要損壞產(chǎn)品或產(chǎn)品表面,系有損檢測,測量手段繁瑣,速度慢,多適用于抽樣檢驗。X射線和β射線反射法可以無接觸無損測量,但裝置復雜昂貴,測量范圍小。因有放射源,故使用者必須遵守射線防護規(guī)范,一般多用于各層金屬鍍層的厚度測量。電容法一般僅在很薄導電體的絕緣覆層厚度測試上應用。磁性測量法及渦流測量法,隨著技術(shù)的日益進步,特別是近年來引入微處理機技術(shù)后,測厚儀向微型、智能型、多功能、高精度、實用化方面邁進了一大步。測量的分辨率已達0.1μm,精度可達到1%。又有適用范圍廣,量程寬、操作簡便、價廉等特點。是工業(yè)和科研使用zui廣泛的儀器。采用無損檢測方法測厚既不破壞覆層也不破壞基材,檢測速度快,故能使大量的檢測工作經(jīng)濟地進行。

 

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